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TDF系列X射線晶體分析儀是研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，主要應用于單晶定向、檢驗缺陷、測定點陣參數(shù)、測定殘余應力、研究板材、棒材的結構、研究未知物質的結構和單晶位錯等。